中図計器の白色光干渉3 D表面輪郭計

SuperViewWにおける図面計器白色光干渉3 D表面輪郭計多シーン適合性、高精度測定、インテリジェント化操作の3つの利点を兼ね備え、超平滑/粗い材質、ナノ/ミクロン級精度、ロット検査効率が低いなどの測定難題をワンストップで解決することができる。

一、製品コア機能

1.測定能力：全タイプの試料表面を覆い、測定モードを切り替える必要がなく、精密部品から量産部品までの多様な検出シーンに適合する。

2.自動化体験：ジョイスティックはすべての軸位置を便利に操作し、アレイ式多領域測定、Mark点自動位置決め補正をサポートし、ロットサンプル切り替え測定点位置は繰り返し調整する必要はない。

3.データ処理と導出：ノイズ除去、フィルタリングなどの四大データ処理モジュールを内蔵し、粗さ、幾何学的輪郭などの五大分析機能、Word/Excel/PDF形式報告書の導出をサポートし、品質検査のアーカイブとデータ分析の需要を満たす。

4.安定と安全保障：エアフロート振動台座は振動干渉を遮断し、0.1 nm分解能環境ノイズ評価機能はデータの正確性を確保する、二重レンズの衝突防止保護、光源の自動消灯設計により、設備損失と操作リスクを低減する。

二、製品コアのハイライト

1.全シーンカバー：単一スキャンモードは超平滑から粗さ、鏡面から全透明/黒色材質に適合し、ナノメートルからミクロン級ワークピースの粗さ、平坦度、ミクロ輪郭などのパラメータは正確に測定でき、設備を交換する必要がなく、多種類の製品検査ニーズを満たすことができる。

2.高精度+広範囲ダブルブレークスルー：複合型EPSI再構築アルゴリズムは伝統技術のボトルネックを解決し、自動スプライン機能は四角形、円形などの多種のモードをサポートし、数千枚の画像がシームレスにスプラインされ、超平滑凹面円弧スキャンも重複隙間のない再構築を実現することができる。

3.高効率自動化によるコスト削減の効果：ワンタッチで単/多領域自動測定、ロット分析を完成し、プログラミング測定機能は事前にプロセスを設定してワンタッチ操作を実現でき、単一の微細デバイスの測定時間が短く、測定throughputを大幅に向上させる。

4.自己研究ソフトウェアプラットフォーム：Xtremevision Pro第2世代3 D測定ソフトウェアプラットフォームは多機種に適しており、拡張性がより強い。画像スキャン、3 D分析、映像測定、自動化測定の4つのモジュールを集積し、中図W/VT/WTシリーズのすべての3 D機器機種に適している。白色光干渉と共焦点顕微鏡の自動切り替えをサポートし、ミクロ平面輪郭の距離、角度、半径などのパラメータを直接測定することができ、柔軟な自動スプライス機能を組み合わせ、カスタム測定領域に制限はない。

三、応用分野

中図計器白色光干渉3 D表面輪郭計精密製造、電子半導体、自動車部品、新材料、医療機器などの分野に広く応用され、各種製品、部品と材料表面の粗さ、うねり、面形状輪郭、表面欠陥、摩耗情況、腐食情況、孔隙間、段差高さ、曲げ変形情況、加工情況などの表面形態特徴に対して測定と分析を行った。

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注意：市場の発展と製品開発の必要により、本製品資料の中の関連内容は実際の状況に応じて随時更新または修正される可能性があり、予告なく、不便な点はご了承ください。