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北京亜科晨旭科技有限公司
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Bruker DektakXT階段計

ネゴシエーション可能更新03/19
モデル
メーカーの性質
メーカー
製品カテゴリ
原産地
概要
Bruker DektakXT階段計
製品詳細
【製品概要】
新しいDektakXTは、フルカラーHDカメラを搭載し、64ビット同期データ処理モードを利用して正確な測定と操作効率を達成する単一アーチ型の設計を採用した世界初のステップ計となった。過去40年以上の間、ブルックの階段計の開発と生産は実践的に革新を続けてきたが、DektakXTはこのような創始的なスタイルを続けてきた。
【主な用途】
1、主に膜厚、応力、表面粗さと表面形態の測定に用い、ナノスケールの表面輪郭測定を実現する、
2、半導体装置、MEMS、金属メッキ、ペンキメッキ、ガラスメッキ、太陽光、LED、タッチパネル、医療などの分野。
【主なパラメータ】

すいちょくレンジ

1mm

垂直解像度

最大0.1 nm

シングルスキャン長

55 mm(最大200 mm)

最大サンプル高さ

50mm

サンプルテーブルサイズ

100 mmX 100 mm(手動)150 mmX 150 mm(自動)

サンプルテーブル回転

360度連続回転

ステップ試験精度

<5Å(1μmステップで1シグマ)