高分解能熱電界放出走査電子顕微鏡

ネゴシエーション可能更新03/17

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概要

走査電子顕微鏡Apreoの機能が豊富な高性能SEMApreo複合レンズ設計は静電と磁気浸漬技術を結合し、高分解能と信号選択を生成することができる

製品詳細

走査電子顕微鏡

Apreo

豊富な機能を備えた高性能SEM

Apreo複合レンズ設計は静電と磁気浸漬技術を結合し、高解像度と信号選択を生成することができる。これにより、Apreoはナノ粒子、触媒、粉末、ナノデバイスを研究するための研究プラットフォームとなり、磁性サンプルの性能を低下させることはありません。

Apreoはレンズ内後方散乱検出の恩恵を受けており、この検出は傾斜、動作距離が短い、または敏感なサンプルに使用されている場合でも、優れた材料コントラストを提供します。新しい複合レンズはエネルギーろ過によりコントラストをさらに高め、絶縁試料イメージングのための電荷ろ過を増加させた。低真空モードを選択可能現在の最大試料貯蔵圧力は500 Paであり、要求される厳しい絶縁体を画像化することができる。

これらの利点（複合最終レンズ、高度な検出、柔軟なサンプル処理など）により、Apreoは優れたパフォーマンスと多機能性を提供し、将来の研究課題に対応するのに役立ちます。

Apreo材料の科学的応用

新しいApreo走査電子顕微鏡（SEM）はナノ粒子、金属、複合材料、コーティングなどの多種の材料を検査することができ、革新的な機能を統合し、より良い解像度、コントラスト、使いやすさを提供することができる。

独自の複合終段レンズは、電子ビーム減速を必要とせずに、傾斜時や地形測定時でも、任意のサンプルに優れた分解能（1 kV電圧で1.0 nm）を提供することができる。
後方散乱検出-低電圧と電子ビーム電流で、いかなる傾斜角度でも電子ビーム感受性試料をTVレートで画像化する場合でも、常に良好な材料コントラストを保証します。
プローブ-各プローブ部分から提供される情報を結合して、重要なコントラストまたは信号強度を得ることができます。

Apreo SEMのメリットを体験する

複合最終段レンズ電子ビーム減速を必要とせずに、いかなるサンプル（傾斜時または地形測定時でも）においても優れた分解能（1 kV電圧で1.0 nm）を提供することができる。
後方散乱検出・低電圧および電子ビーム電流であり、任意の傾斜角度で電子ビーム感受性サンプルをTVレートで撮像する場合でも、良好な材料コントラストを常に保証する。
プローブ・各検出器部分から提供される情報を組み合わせて、重要なコントラストまたは信号強度を得ることができる。
多種の電荷緩和戦略、サンプル室圧力が最高500 Paの低真空モードを含み、任意のサンプルのイメージングを実現することができる。
分析プラットフォーム：高電子ビーム電流を提供し、光スポットが小さい。サンプルビンは3つのEDS検出器、同一平面のEDSとEBSD、および分析に最適化された低真空系をサポートしている
サンプル処理とナビゲーションは非常に簡単です、多目的サンプルホルダーとNav-Cam+。

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