DualBeamけんびきょう

Scios DualBeam

Thermo Scientific™ Scios™ DualBeam™高解像度DualBeam分析システムは、優れた2Dと3D性能分析磁性材料を含む多くのサンプル。Scios DualBeamの革新的な機能は、フラックス、精度、使いやすさを高めることができ、学院、政府、工業研究環境における高度な研究と分析に最適です。

高度な検出技術とはThermo Scientific™ Scios DualBeamのコア技術です。レンズ内FEI Trinity™検出技術はすべての信号を同時に収集することができ、時間を節約するだけでなく、鮮明なコントラストを形成することができ、できるだけ多くのデータを収集するのに役立ちます。革新的なレンズ下同心後方散乱検出器は効率を高め、信号の角分布に基づいて信号を選択することができ、着陸エネルギーが20 eVそれもそうだ。

Scios DualBeamの材料科学応用

Scios DualBeam特に金属、複合体、コーティングなどの多くの材料に適しており、以下のことができる：

• 高分解能、高コントラストイメージングを実行することは、磁性サンプルに対しても例外ではない

• 使用Trinity検出キットは材料、形態、エッジコントラストを同期して検出し、それによって材料の様々な属性を分析する

• ドリフトリソグラフィ抑制により、サンプルを調製することなく位置特異性を有するスライスを作製することができ、非導電材料を操作することもできる

• 3次元データキューブを生成して金属中の介在物の大きさと分布を決定したり、クラック先端の各方向の応力とひずみを分析したりする

• 組み合わせEasyLift™高品質のサンプルを迅速かつ確実に製造することができ、しかも最小の電子ビームエネルギーだけで高品質のS/TEM結果＃ケッカ＃

• 対象DealBeam^™ 一般的なアプリケーションでは、経験レベルのオペレータがすぐに実行できるように、独自のユーザーガイドと段階的なワークフローを提供します。

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