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BRDF/BTDFテスタ

ネゴシエーション可能更新01/02
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メーカー
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概要
BRDF/BTDFテスター、本測定装置は各種材料散乱特性測定用である。光源の1次元回転、検出器の2次元回転により、異なる入射及び反射(透過)幾何条件におけるサンプル反射、透過放射輝度の測定を実現する。システムは、コリメート光源、光源ホルダ、調整可能なサンプルホルダ、検出器、検出器回転機構、検出器ホルダ、試験ソフトウェアなどの部分を含む。
製品詳細

本測定装置は、各種材料散乱特性測定用である。光源の1次元回転、検出器の2次元回転により、異なる入射及び反射(透過)幾何条件におけるサンプル反射、透過放射輝度の測定を実現する。システムは、コリメート光源、光源ホルダ、調整可能なサンプルホルダ、検出器、検出器回転機構、検出器ホルダ、試験ソフトウェアなどの部分を含む。

BRDF/BTDF测试仪



BRDF/BTDFテスタ主な試験パラメータ

複素色光と単色光BRDF

複素色光及び単色光BTDF

異なる角度反射透過光束

異なる角度反射透過放射輝度

材料の異なる角度散乱光色温度、色座標

BRDF/BTDFテスタ システム構造

1.光源

試料散乱信号の信号対雑音比を向上させるために、広スペクトル高輝度ハロゲンタングステンランプを光源とし、コリメータレンズを介して光線をコリメータして試料に出射した。

レンズの焦点距離を調整することで、異なる大きさのスポットを実現することができます。

光源はまた、フィルタを増やし、異なる色の単色光入射を実現することもできる。

2光源ブラケット

半円形光源ホルダにより、光源の0〜180°入射角度の調整を実現する。

高精度ステッピングモーターを採用し、ソフトウェア制御に合わせて、入射角度の正確性を保証する。

3.調整可能サンプルホルダー

サンプルはサンプルホルダにクランプすることができる。

サンプルホルダーは上下に調整でき、光源とプローブを通じて標識をアライメントし、サンプルの位置調整とアライメントを実現する。

4.検出器

シリコン検出器を用いて、300 nm-1000 nmの範囲を検出した。

散乱特性**の測定を行う際には、イメージング光学系、チョッパ、モノクロメータ、検出器、位相同期増幅器などを主に含む検出システムをオプションで実装することができます。イメージング光学系は、モノクロメータ入射スリットに位置するように試料拡散板を測点イメージングする。複素色光はモノクロメータの入射スリットに入り、コリメートされた後、格子によって分光され、再び集光ミラーによって***検出器に集光され、検出器は光信号を電気信号に変換し、位相ロック増幅器によって増幅され、チョッパ周波数に基づいて信号を抽出してスペクトルDN値を得る。

5.プローブホルダー及び回転機構

プローブブラケット及び回転機構は、プローブを球面全域で移動させ、反射と透過信号の測定を実現することができる。

高精度ステッピングモーターを採用し、ソフトウェア制御に合わせて、反射と透過角度の正確性を保証する。

6.ソフトウェア部分

測定速度と精度を高めるために、特に装置のために制御ソフトウェアを開発し、多種の幾何条件における散乱特性の一度の自動測定をサポートした。まず光源入射放射輝度測定を行い、その後サンプル拡散板に幾何条件反射放射輝度を設定して測定を行い、このように循環直***がすべての設定幾何条件の散乱特性測定を完了するまで、ソフトウェアは直接散乱特性曲線を出力する。

BRDF/BTDF测试仪

ソフトウェアテストインタフェース