XAU-X蛍光分光分析器、めっき層厚測定器、膜厚計

ネゴシエーション可能更新02/16

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概要

XAURoHS分析有害元素検出

製品詳細

	XAU
RoHS分析	有害元素の検出、RoHS（As、Pb、Hg、Cd、Cr、Br）、卤素
めっき層検出	オプション
EFPアルゴリズム	標準
ソフトウェアオペレーション	ヒューマン化されたクローズドソフトウェア、故障の自動判断による修正及び操作手順の提示、誤操作の回避
プローブ	Si−Pin半導体検出器
X線装置	マイクロフォーカス管
コリメータ	Φ5mmの
マイクロフォーカス技術	最近接測距スポット拡散度 10%
フィルタ	内蔵埋め込みマルチフィルタ切替装置
サンプルかんそく	1/2.7”カラーCCD、ズーム機能
フォーカスモード	高感度レンズ、マニュアルフォーカス
拡大倍率	光学38-46X，数値を40～200倍に拡大
けいきすんぽう	470mm550mm480mm
サンプルキャビティ高さ	215mm
サンプルテーブル移動	無
けいきじゅうりょう	45キログラム
その他の添付ファイル	コンピュータ一式、プリンタ、アクセサリボックス、RoHS標準シート
X線標準	DIN ISO 3497、DIN 50987、ASTM B 568

一、製品優勢：

XAUはRoHS、ハロゲン検出分析用に開発された高集積スペクトル分析器である。

各種製品の品質管理制御、原料検査及び生産プロセス制御の測定使用に広く使用されている、

1. 組立Si-PIN半導体検出器、検出範囲と精度を大幅に向上；

2.人間的な閉鎖ソフトウェア、故障を自動的に判断して修正と操作手順を提示し、誤操作を避ける、

3. RoHS、ハロゲン有害元素の検出、最低検出限界は2 ppmに達することができる、

4. 微小光凝集技術を備え、最近の測距光スポットの拡散度は以下である10%；

5.高精細撮像定位システムを採用し、サンプルの観察がはっきりし、定位が正確である、

6.コア部品の高集積モジュール化設計、構造がコンパクトで、相互電磁干渉を避け、機器の検出限界を高め、機器の故障率を下げた、

7.下照式設計、試料測定が迅速である、

8. ワンタッチRoHS検査、材料の種類を自動的に識別し、プログラムを自動的にマッチングし、ワンクリック分析を実現する。

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