トランス負荷スイッチ試験装置

トランス負荷スイッチ試験装置の主要技術指標

⒈3ウェイ独立試験電源、大出力電源1 A、
⒉機器設置サンプリング率10 ~ 20 KHZ、
（1次波形大格納時間6.4秒。
（9355）遷移抵抗測定範囲：Y/△型変圧器≦40Ω、Y型変圧器≦20Ω。
⒌測定精度：△≦10%
（測定同期誤差：0.2 ms。
⒎ディスプレイ：240×128 T、T 6963コントローラ、
（9359）プリンタ：MP-40-8シート式前交換紙型プリンタ、
⒐処理部：
80 C 320高速8ビットマイクロプロセッサ。プログラムメモリ32 K、
パワーダウンホールドデータメモリ512 Kバイト、
高速A/D変換器、高サンプリング率は400 KHZに達することができる、
⒑電源220 V±10%電力≦200 W。
⒒寸法410 mm×320 mm。
⒓重量≤7 kg
ランダム付属品：テストライン4本のワニテストクランプ4本

トランス負荷スイッチ試験装置利点：

1.YOY△型変圧器をテストし、抵抗値は換算せずに直接表示する、
2.データ分析は人間化され、波形中間の故障を自動的に探し出し、記号を付けることができる、
3.波形の表示はサンプリングバックのデータに基づいて抵抗値と時間の幅を自動的に調整する、
4.△型変圧器は三相同期性を示すことができる、
5.巻線を持っても、巻線を持っていなくてもテストできます。
6.四端子配線方式、高精度抵抗測定を提供し、かつ導線補償を必要としない、
7.テスト中に連続テストができ、変圧器の停電時間を節約することができる、
8.計器は小型のコンピュータによって制御され、外に800×480カラー液晶タッチスクリーン、高速プリンター、
9.機器内部に100組のデータを自動的に保存することができる。

1、実際の測定時に測定された波形は理論波形より悪くなることが多く、特に巻線測定がある場合、これは測定時に変圧器巻線のインダクタンス、容量パラメータによる発振信号、及びタップスイッチの機械的振動により、測定された波形はいくつかの変動を呈し、このような状況は実際の測定時に避けられない。スイッチの接触点に保護油膜が低電圧で絶縁性を示す新しいスイッチがあり、および使用年数が長く、スイッチの接触点に酸化現象があるスイッチは、テスト時に波形が可能であり、これも正常な現象である。この段の上で何度もスイッチを切り替えることができて、酸化層を薄くして、接触面積を増加して、更に計器でテストを行って、このような現象を避けることができるかもしれません。

2、もう一つの現象は超レンジ試験であり、例えば試験スイッチの過渡抵抗が9Ωより大きく、選択レンジが9Ωの時に測定を行うと、結果は図21に示すような波形が現れる。このとき、カーソル1が指示した遷移抵抗は正常である可能性があり、カーソル2が指示した遷移抵抗は50.0Ωを示し、これはオーバーレンジによるもので、レンジを30Ωに変更してテストを行うだけでよい。移行過程の中間過程が平らな直線でいずれも50.0Ωであり、超過距離の到着でもある場合は、距離を30Ωに変更するだけでよい。

3、無巻線測定を行う場合、変圧器巻線の分布パラメータの影響がなく、波形は理論波形に比較的接近し、ユーザーが測定した波形曲線が平らでない場合、多くの場合は機械伝動の原因であり、スイッチや機器テストに問題があるわけではない。ブレークポイントが発生し、ブレークポイントで波形が底に戻った場合は、慎重に対処してください。

4、スイッチの切り替え時に瞬間的なブレークポイントがある場合があり、その時の波形はほぼ平直な直線に押され、この場合は本装置の処理によるものである。カーソル2を移動して三相波形曲線の各点を読み込むと、同様に各期間の抵抗を切り替える変化が見られるが、この場合は再テストする。波形に異常な下ホップ点が現れ、持続時間が2 ms以上の場合、そこの抵抗値を検査しなければならない。抵抗値が50Ωを超えると、接触不良や緩みがある可能性が高い。その場合、判断のために何度もテストを繰り返しなければならない。