光学フィルム/光抵抗測定器

ネゴシエーション可能更新02/14

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概要

■薄膜から光がどのように反射するかを分析して薄膜厚を測定する

製品詳細

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薄膜厚は、光がどのように薄膜から反射するかを分析して測定した。目に見えないスペクトルを分析することで、100原子を超える厚さの非金属薄膜のほとんどを測定することができます。モバイル機器には何も触れていないので、数秒で測定できます：フィルムの厚さ、屈折率、さらには粗乾燥度！

工業界のエリートたちのためにフィルムの厚さを測定する。低価格ビット膜厚測定の応用において、私たちの測定システムは最高の占有率を持っている。実際、私たちFilmetricsはほとんどすべての膜厚測定のニーズを満たす唯一の製品です。

応用分野
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