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杭州貝諾光学科学技術有限公司
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光源ストロボテスタ

ネゴシエーション可能更新01/20
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概要
光源ストロボテスタは、急速な変化をリアルタイムで記録するための光度量波形、スペクトル、Pst短期シンチレーション指数、ストロボ効果可視化パラメータSVM、シンチレーション感知度Mpなどのストロボ関連パラメータ
製品詳細

HA 6000 F光源ストロボテスタ高速変化をリアルタイムで記録するための光度量波形、スペクトル、Pst短期シンチレーション指数、ストロボ効果可視化パラメータSVM、シンチレーション感知度Mpなどのストロボ関連パラメータである。専用と光源、照明現場の光点滅指数(FLICKER)測定、あるいはフラッシュランプ、自動車キセノンランプ、警告ランプなどの過渡光源のフラッシュ周波数、光度変化曲線測定。安定光源の光度パラメータ測定にも使用できます。積分球、光強度装置、輝度筒と併用可能

▲高速CPUプロセッサを用いた高精度電子光学センサ、高速16ビットADサンプリング、性能がより安定し、精度がより高い。

▲システムのアップグレードはソースコードがより開放的な組み込み型オペレーティングシステムを採用し、知能製品の応用設計により機器の後続アップグレードに無制限空間、人間化インタフェースシステムを提供する、

▲10.1高精細IPSキャパシタンスタッチスクリーンを採用し、高表示解像度、1画面により多くの内容を表示し、色鮮やかなグラフィック表示がよりリアルで、タッチと使用がよりスムーズで、インタフェース設計がより合理的で、体験がより強い;

▲ミリ秒高速スイッチ、ワンタッチテスト、より便利な使用。

▲システムの簡単な更新とアップグレード

光源ストロボテスタ測定パラメータ基準

▲基本測定

▲IEEE PAR 1789「IEEE Std 1789TM-2015」

▲IEC-Pst短期シンチレーション指数、NEMA 77-2017は短期シンチレーション指数(Pst)を規定している

▲CA CEC(カリフォルニア州エネルギー効率)、

▲ASSIST、ASSISTはMpの計算方法を規定している

▲CIE SVM の

フリッカ百分率PF、−フリッカ指数FI、−光出力周期周波数f、−短期フリッカ指数Pst、−ストロボ効果可視化パラメータSVM、−ASSISTフリッカ感知度Mp

性能及び技術指標

1、照度測定範囲:0.1 lx〜200000 lx、自動及び4速レンジ測定、

2、測定精度:一級(±4%)、

3、サンプリングレート:1 kS/s、5 kS/s、10 kS/s 100 kS/s設定)、(kS/s:千回サンプリング毎秒)

4、サンプリング時間:0.1 s-200 s(1 kS/s)設定可能、

5、定格作業条件:

6、測定方式:照度、輝度、光束、光強度

7、保存ファイル形式:PDF、GDF、EXCLE

HA 6000 Fストロボテスタ主な試験パラメータ

1、基本測定

周波数、値、最小値、平均値、シンチレーション指数、シンチレーション百分率、変調深さ、ストロボ深さ、光度マップ、光度マップ増幅、スペクトルマップ

2、IEEE1789

周波数、値、最小値、平均値、シンチレーション指数、シンチレーション百分率、変調深さ、ストロボ深さ、変調深さ危害判定図

3、IEC PST

周波数、値、最小値、平均値、シンチレーション指数、シンチレーション百分率、変調深さ、ストロボ深さ、光度マップ、光度マップ増幅、スペクトルマップ

Pst、Pst評価

4、CA CEC

頻度、値、PAM、PAM(40Hz)、PAM(90Hz)、PAM(200Hz)、PAM(400Hz)、PAM(1000Hz)フォトメトリックマップ、フォトメトリックマップ増幅、スペクトルマップ

5、CA CEC

シンチレーション指数、シンチレーション百分率、MP、DP、d、a、fb、MP評価、光度マップ、光度マップ増幅、スペクトルマップ

6、CIE SVM

周波数、値、最小値、平均値、シンチレーション指数、シンチレーション百分率、SVM、SVM評価、光度マップ、光度マップ増幅、スペクトルマップ