LVS-500シリーズ低圧サージテスタ

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概要

LVS-500シリーズの低圧サージテスタは、出力波形がIEC 61000-4-5規格及びGR-1089-CORE及びC 62.45-2002 IEEE規格に記載されたサージ波形に適合し、ウェハ及びパッケージレベルにおけるデバイスのサージ耐干渉性を試験することを目的としている。パルス発生器により、サージ応力下のEOS障害閾値を簡単に決定することができる。

製品詳細

ESDEMC Technology LLCはWei Huangによって2011年3月に米ミズーリ州ローラで設立された。ESDEMCはESDとEMCソリューションを開発する。当社は革新的で先進的で高品質でコスト効率の高いソリューション、一般的なコンサルティング、テストサービス、カスタマイズプロジェクトの提供に力を入れています。製品は充電装置モデル（CDM）システム、ケーブルを含む放電イベント（CDE）システム、ESDシミュレータ、パルス減衰器、電流プローブ、無線周波数発光／免疫のためのTEM電池、高圧直流電源、カスタマイズされた高圧／無線周波数設計。ESDEMC Technologyは2012年以来、ESD協会の企業会員である。

LVS-500シリーズ低圧サージテスタ出力波形はIEC 61000-4-5規格及びGR-1089-CORE及びC 62.45-2002 IEEE規格に記載されたサージ波形に適合し、ウエハ及びパッケージレベルにおけるデバイスのサージ耐スクランブル性を試験することを目的とする。パルス発生器により、サージ応力下のEOS障害閾値を簡単に決定することができる。

パルス源設計及びパルス源伝送方法は、発生器出力端ではなく、被試験装置に波形性能が直接作用することを保証する。各サージイベントの電流波形をキャプチャして解析することができ、自動パルス障害測定設定もこのプロセスを完了するのに役立ちます。また、電圧波形を捕捉し、保護構造のオンレベルを決定することもできる。これらの電圧波形は、パルスイベント後に漏電特性が変化するため、故障判定の根拠とすることもできる。

製品の特徴

●波形が最小値から最大値までクリーンで線形

●分離サージパルス回路

●ソフトウェア制御自動測定

●直流点検と静的IV試験を含む自動故障検出

製品アプリケーション

●電源、駆動PCB、通信システム、LCD表示パネルのサージパルス耐干渉性をテストし、8/20μsと10/1000μs規範に適合する

●ウエハ、パッケージ、PCBのサージ/静電放電（ESD）耐干渉性をテストする

LVS-500シリーズ低圧サージテスタ製品仕様

パラメータ	LVS-500型	LVS-1000	LVS-1500型	LVS-2000	LVS-500型	LVS-1000	LVS-1500型	LVS-2000	単位
	-8/20				-10/1000
出力電圧@開放負荷	1-500	1-1000	1-1500	1-2000	1-500	1-1000	1-1500	1-2000	V
出力電流@開放負荷	0.5-250	0.5-500	0.5-750	0.5-1000	0.1-50	0.1-100	0.1-150	0.1-200	A
出力精度	±5%±0.1V
しゅつりょくていこう	2 ± 5%	10 ± 10%							Ω
短絡電流最前線時間	8 ± 30%	10 (+0, -5)							μs
短絡電流半ピーク時間	20 ± 20%	1000 ± 20%							μs
オープン電圧フロンティア時間	1.2 ± 30%	10 (+0, -5)							μs
開回路電圧分ピーク時間	50 ± 20%	1000 (+1000, -0)							μs
サイズ	347 x 300 x 145
重量	5	6	8	10	5	6	8	10	キログラム

上海正衡電子科技有限公司shzhtech計器計器の代理販売、テスト方案の提供、販売前と販売後の技術サポートと計器計器の修理を一体化した多元化会社である。関連分野のお客様に専門的な完全なテストソリューション、技術トレーニング、メンテナンスサービスを提供することに力を入れています。

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