HAST高圧加速寿命試験箱

ネゴシエーション可能更新12/23

モデル

メーカーの性質: メーカー

製品カテゴリ

原産地

オンライン相談

概要

HAST高圧加速寿命試験箱*は主に半導体パッケージの湿気能力を試験することであり、測定対象製品は厳しい温度、湿度及び圧力の下で試験され、湿気はコロイド又はコロイドとリードフレームのインターフェースに沿ってパッケージに浸透し、よく見られる故障方式は能動金属化領域の腐食による遮断、又はパッケージリード間の汚染による短絡などである。PCTZは主に半導体パッケージの湿気能力をテストするもので、測定対象製品は厳しい温度、湿度及び圧力の下でテストされ、湿気はコロイド又はコロイドとワイヤフレームのインターフェースに沿ってパッケージに浸透する。

製品詳細

HAST高圧加速寿命試験箱*主に半導体パッケージの湿気能力をテストし、測定対象製品は厳しい温度、湿度及び圧力の下でテストされ、湿気はコロイド又はコロイドとワイヤフレームのインターフェースに沿ってパッケージに浸透し、よく見られる故障方式は能動的な金属化領域の腐食による遮断、或いはパッケージのピン間の汚染による短絡などである。PCTZは主に半導体パッケージの湿気能力をテストするもので、測定対象製品は厳しい温度、湿度及び圧力の下でテストされ、湿気はコロイド又はコロイドとワイヤフレームのインターフェースに沿ってパッケージに浸透する。

◆真空ポンプ設計（ボイラ内空気抽出）圧力安定性、再現性の向上、

◆超長効率実験運転時間、長時間実験機台運転300時間、

◆乾燥設計、試験終了真空採取乾燥設計試験区（測定対象品）の乾燥確保、

◆水位保護、炉内水位センサーを通じた検知保護、

◆耐圧設計、箱体耐圧力（140℃）2.65 kg、水圧試験6 kに適合、

◆二段式圧力安全保護装置、二段式結合コントローラと機械式圧力保護装置を採用する、

◆安全保護排圧ボタン、警急安全装置二段式自動排圧ボタン、

HAST高圧加速寿命試験箱*

モデル		SEST-S250	SEST-S350型	SEST-S450型	セスト-S550
スタジオサイズ（cm）		25x35	30x45	40x55	5x60
性能（のう）	温度範囲	105～132℃
	しつどはんい	RH飽和蒸気（調整不可）/65%RH～RH非飽和蒸気（調整可能）
	温度均一性	≤2℃
	しつどへいきんど	≤±5%RH
	あつりょくはんい	1.2 ~ 2.89 kg（1 atm含む）
	加圧時間	約45/Min
おんどせいぎょき		中国語カラータッチスクリーン+PLCコントローラ（制御ソフトウェア自己開発）
じゅんかんほうしき		きょうせいたいりゅうサイクルほうしき
構造		ひょうじゅんあつりょくようき
加湿システム		でんねつかん
加湿用水		蒸留水または脱イオン水（自動補水）
電源		AC 380 V 50 Hz三相四線+接地線
材料	シェル材料	冷間圧延鋼板静電噴霧成形（SETH標準色）
	内壁材料	SUS 316ステンレス板
	ほおんざい	グラスウール
電圧		220 V～240 V 50/60 HZ単相

HAST高压加速寿命试验箱

同類製品の推奨