GX 60微分干渉位相裏打ち金位相顕微鏡

正置微分干渉位相裏打ち金相顕微鏡は不透明物体の表面形態を反射式微分干渉位相裏打ち観察するのに適しており、透明物体を透視顕微鏡観察することもできる。優れた無限遠光学系とモジュール化機能設計理念を採用し、システムのアップグレードを容易にすることができ、偏光観察、微分干渉コントラスト観察などの機能を実現し、コンパクトで安定した高剛性本体は、顕微操作の防振要求を十分に体現している。人間工学の要求に合致する理想的な設計は、操作をより便利に快適にし、空間をより広いものにする。金相組織及び表面形態の顕微観察に適しており、金属学、鉱物学、精密工学研究の理想的な機器である。

1.光学系：CCIC無限遠色差補正光学系
2.倍率：50 X-1000 X
3.観察筒：30°傾斜、両目瞳距離調節範囲：53 ~ 75 mm
4.接眼レンズ：大視野無色差SWF 10 X接眼レンズ、視野数φ22 mm
5.コンバータ：DICスロット付き五穴明暗場コンバータ
6.対物レンズ（シェーディングフィールド長動作距離平場消色差DIC対物レンズ）LMPlan 5 X NA.0.12 LMPlan 10 X NA.0.3 LMPlan 20 X NA.0.4 LMPlan 5 X 50 X LMPlan 5 X 100 X
7.ステージ：機械式、寸法：280 mmX 270 mm、移動範囲：横（X）204 mm、縦（Y）204 mm
8.偏光装置：偏光器を持ち上げ、360度回転可能、プッシュプル切換可能、偏光器を検査し、プッシュプル切換可能
9.照明システム：落射照明：12 V 50 Wハロゲンランプ、輝度調整可能；透過照明：大出力LED
10.DIC観察システム：LMPlan 5 X/LMPlan 10 X/LMPlan 20 X DIC対物レンズに適用