Analysis熱抵抗試験器

Analysis熱抵抗試験器フェーズ 2米国Analysis Tech（Anatech）社から生産され、米軍規格とJEDEC規格に適合している。

Analysis Tech Inc.は1983年に設立され、ボストン北部に位置し、電子パッケージデバイスの信頼性テストの国際設計、製造会社である。創始者John W.Sofiaは米マサチューセッツ工科大学の博士であり、溶接点の信頼性、熱抵抗分析と熱伝導率理論を提案する専門家である。熱抵抗試験の分析、熱伝導率及び溶接点の信頼性に関する多くの論文を発表した。Analysis Tech Inc.は米国で独立した実験室で技術サポートを提供している。

主にダイオード、三極管、線形調圧器、制御可能シリコン、LED、MOSFET、MESFET、IGBT、ICなどの個別電力デバイスの熱抵抗試験と分析に用いられる。

Analysis熱抵抗試験器フェーズ 2Rja、Rjc、Rjb Rjlの熱抵抗を試験することができる（試験原理はJEDEC 51-1定義の動的及び静的試験方法に適合する）

Phascl 2でテストされたデータは、上図を生成します。左上の数字は、このデバイスには4つの階層があることを示しています（異なる階層を明確に理解するために、この図を図3に変換することができます）。1つ目はチップ下の接着層のインピーダンス値であり、後のTauは完成した試験時間であり、4つの階層のインピーダンス値の和がこのデバイスの熱インピーダンス値である。そして、各変曲点は熱が新しいレベルに入っていることを示しています。各レベルのデータは、このデバイスの異なる層からの放熱の良し悪しを示し、異なるメーカーの同類製品にとって、熱抵抗値が非常に良いメーカーを選択することができます。同時に、同じメーカー、同類製品、異なるロットの品質の違いを検出することができ、それによって同メーカーの生産技術の安定性を評価することができる。

世紀の天源(香港)有限会社、英語(略称SKYAN）。研究開発テスト分野に立脚し、機器の販売、リース、技術コンサルティング、メンテナンスサービスを一体化した型企業である。中国の印刷電気です

道路業界協会（CPCA）会員企業会社は香港に位置し、運営センターは深センに設置され、日本の東京に子会社を持ち、シンガポール、ベトナム、タイの英国にビジネスと販売拠点を設け、中国の上海、蘇州、青島、武漢、成都、アモイなどに営業拠点を設け、全国に複数の授権販売業者を設置している。

スキャン会社は日本です広山株式会社工業設備の海外販売センター--設立された1990年のシンガポール株式会社HMCセールズ＆サービス（平山工場サポートセンター）中国における関連企業;はいコスモピアかんそく（COSMOPIA）の中国代理店;日本ですJ-RAS株式会社の中国大陸代理店:同時に、東揚精測、ホリバ岩崎電気、三井電気精機など日本企業の戦略的パートナー。

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