白色光干渉計によるFAファイバ端面粗さ測定Szパラメータ

光通信業界における光導波路デバイスの光ファイバ端面粗さの検出ニーズに対して、SuperViewシリーズの白色光干渉計は白色光干渉原理とナノスキャンシステムに基づいて、0.1 nmの縦分解能と全透明表面干渉縞イメージングの能力を備えており、FAファイバ端面粗さSzパラメータに対する高精度、高繰り返し性のワンタッチ測定を容易に実現することができる。