超高速高低温気流衝撃試験機

超高速高低温気流衝撃試験機技術パラメータ：

外形寸法：W（幅）660 mm＊H（高さ）1120 mm＊D（奥行き）1040 mm

温度範囲：-80℃〜+250℃

制御精度：±0.5℃

衝撃ガス流量：4～18 SCFM（1.8～8.5 L/S）

衝撃速度：-55度 +125度、回復時間≤10S

超高速高低温気流衝撃試験機制御システム

1.15インチ超大型マンマシンインターフェース

2.USB、LANをサポートし、パソコン携帯電話の遠隔操作を実現できる

3.2つの検出モード：AIR NODEとDUT MODE

4.運転モード

1）ハンドリング：手動切り替え/自動サイクル。

2）プログラム：手動切替/自動サイクル。

超高速高低温気流衝撃試験機動作原理：

1、試験機出力気流カバーは試験品に覆われ、比較的密閉空間の試験室を形成し、試験機出力の高温または低温気流は、被試験品表面温度を急激に変化させ、それによって相応の高低温衝撃試験を完成する、

2、多くの多元デバイスの中の1つのICまたは他の素子に対して、それを分離して単独で高低温衝撃を行うことができ、周辺の他のデバイスに影響を与えず、伝統的な冷熱衝撃試験箱に比べて、温度変化の衝撃速度が速い

超高速高低温気流衝撃試験機試験基準を満たす：

1.GB/T 2423.1-2008試験A：低温試験方法、

2.GB/T 2423.2-2008試験B：高温試験方法、

3.GB/T 2423.22-2012試験N：温度変化試験方法

4.GJB/150.3-2009高温試験

5.GJB/150.4-2009低温試験

6.GJB/150.5-2009温度衝撃試験

超高速高低温気流衝撃試験機動作モード：

A）2路の主空気管出力、分布ヘッドから8路に分けて空気を供給し、2セットの1牽引8系統を持つ

B）2種類の検出モードAir ModeとDUT Mode

高温/常温/低温にテストとサイクルを行う（または常温にしない）

超高速高低温気流衝撃試験機複数のデバイスのうちの1つに対してICまたはその他の構成部品周辺の他のデバイスに影響を与えることなく、隔離して単独で高低温衝撃を行う、従来の冷熱衝撃試験箱に比べて、温度変化衝撃速度が速い。

温度制御された圧縮機空気をノズルから噴射し、わずか数秒で1つの温度試験に必要な環境に到達することができ、通常の高低温衝撃試験箱と比較して、試験時間を大幅に短縮し、生産効率を向上させることができる。