半導体信頼性試験用高低温試験箱

一、半導体信頼性試験用高低温試験箱作用

適用半導体製品部品及び材料が高温、低温（交番）サイクル変化の場合、その信頼性の各性能指標を検査する検査設備。高温時に製品部品、材料の軟化、効能低下、特性変化、潜在破壊、酸化などの現象（例えば：充填物とシールストリップの軟化または融解、電子回路の安定性低下、絶縁破壊、高分子材料と絶縁材料の老化加速など）をテストすることができ、低温時に製品部品、材料に亀裂、脆化、可動部の係止、特性変化などの現象（例：材料が硬く脆くなり、電子部品の性能が変化し、水凝縮凍結、材料収縮による機械構造変化など）をテストすることができる。

二、半導体信頼性試験用高低温試験箱主なパラメータ

温度表示精度：0.1℃

温度範囲：室温0℃～150℃/-20℃～150℃/-40℃～150℃/-70℃～150℃/

昇温速度：平均3.0℃/分

降温速度：平均1℃/分

湿度範囲：30～98%R.H

温度解析度：±0.1℃

三、高天について

湖北高天試験設備有限会社は試験室設備、計器と耐気候環境試験設備の研究開発、生産と設置を一体に集めた生産と販売会社である。私たちは絶えず新しい技術点を開拓して、取引先の技術生産の難題を解決して、設計は適切で有効な製品を提供して、積極的に新進のハイテク製品を普及して、次第に立ち後れた古い設備に取って代わって、ユーザーの生産効率を高めて、取引先のために生産能力の価値を創造します。高天は皆様のご来場と交流を歓迎します！

四、製品の詳細

高低温試験箱の細部に至るまで丁寧に彫刻され、良質な品質を示している。

五、高低温試験箱の構造設計

1.内外箱材質試験区内箱鏡面ステンレス板（SUS#304）、外箱SUS#304ステンレス板。

2.外箱ランプ源高輝度照明ランプ（オスロまたはフィリップス13 W PLランプ）

3.同温層構造設計：箱体上部の凝結を効果的に回避する。

4.観測ウィンドウ：観察試作品使用（W＊L 28＊35 cm）

5.窓の制汗設計：採電熱器装置、水蒸気凝結防止（40 W）

6.試験穴：試験電源線と信号用（5.0 cm）を外付け可能

7.テーブルプーリ採滑車移動調整配置位置と強力ボルト固定位置（200 Kg/ホイール）

8.保温層：保温絶縁層耐火防火PU＋断熱ガラス綿（保温層厚10.0 cm）

9.箱内盤架：可動調整可能なグリッド盤架とステンレス鋼棒状グリッド盤の2本（盤架1間格5.0 cm）

10.箱ドア：2本の断熱気密を採取して圧迫し、効果的に外部温度の漏洩を遮断する

六、高低温試験箱の安全注意事項

1、設備と試験の安全を保証するために、外部保護接地を設置し、設備の銘板の要求に従って電源を供給してください。

2、設備は燃えやすく爆発しやすい、有毒、強腐食物の試験に使用することを厳禁する。

3、非専門者は分解、修理してはならない、

4、設備は信頼できる接地が必要である；

5、試験中に箱のドアを開けたり、箱の中に入ったりしないでください。そうしないと、人身傷害や設備の誤動作を引き起こす可能性があります。

6、設備箱のドアロックは外部からしか開かず、箱の中に入るには誰かが監視しなければならない。

7、箱に発熱試料を入れる場合、試料は外部電源を使用し、設備自身の電源を直接使用しないでください。

8、設備には多種の保護措置が設けられているので、定期的に検査してください。

9、箱体内温度≧55℃の場合、冷凍圧縮機を開けないで、圧縮機の長寿命の正常な運行を保証してください。

10、冷凍機能のある製品は運搬時の傾斜角が45℃を超えてはならず、所定の位置に置いた後、1〜2日静置してから電源を入れなければならず、冷凍システムが正常に動作し、寿命を延長するのに有利である、

11、製品の箱ドアを重力で開閉しないでください。そうしないと、箱ドアが脱落しやすく、製品が破損し、傷害事故が発生しやすい、

12、製品が長時間使用を停止する場合、定期的に湿気除去処理を行い、関連部品を損傷しないようにしなければならない。

13、製品を運搬する時、パネル上の計器などの損傷しやすい部品に注意しなければならない。

14、本装置に添付された書類を詳しく読んでから、本装置を操作することができます。

15、本試験箱には防爆装置がなく、可燃性爆発物を入れて乾燥してはならない

16、操作中、必要がない限り、箱のドアを開けないでください。そうしないと、人身傷害や設備の誤動作を引き起こす可能性があります。高低温蒸気が箱の外に出るのは非常に危険箱ドアの内側は依然として高温を維持してパーマをかける