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オリンパス共焦点顕微鏡OLS 5000

ネゴシエーション可能更新03/16
モデル
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メーカー
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原産地
概要
オリンパス3 Dレーザ共焦点顕微鏡LEXTOLS 5000オリンパスOLS 50003 D測定レーザ共焦点顕微鏡は高級光学系を採用し、非破壊観察により高画質の画像を生成して精確な3 D測定、ISO規格に準拠した表面粗さ測定などを行うことができ、その準備作業も非常に簡単で、サンプルの前処理を必要としない
製品詳細
オリンパス3 Dレーザー共焦点顕微鏡LEXT OLS 5000


オリンパスOLS 5000 3 D測定レーザー共焦点顕微鏡は高級光学系を採用し、非破壊観察により高画質の画像を生成して精確な3 D測定、ISO規格に適合した表面粗さ測定などを行うことができ、その準備作業も非常に簡単で、サンプルの前処理を必要としない。

LEXT OLS5000 3Dレーザ顕微鏡に搭載された2つの光学系(カラーイメージング光学系とレーザ共焦点光学系)を測定することで、カラー情報、高さ情報、高解像度画像を取得することができます。


LEXT OLS5000 3D測定レーザー顕微鏡は4重要な価値:

·任意の表面形状をスナップします。

·信頼性の高いデータを迅速に取得できます。

·簡単な操作-サンプルを置いてボタンを押すだけです。

·挑戦的なサンプルを測定する。

の価値判断を1:任意の表面形状をスナップします。

OLS5000顕微鏡の先進技術により、高解像度の3Dサンプル測定。


の価値判断を2、信頼性の高いデータを迅速に取得

この顕微鏡のスキャンアルゴリズムは、データ品質と速度を向上させることができ、スキャン時間を短縮し、ワークフローを簡略化することができます。zui最終的に生産力の向上を実現する。


の価値判断を3、使用が簡単で、サンプルを置いてボタンを押すだけでいい

LEXT® OLS5000顕微鏡には自動データ収集機能があるので、複雑な設定調整を行う必要はありません。 慣れないユーザーでも正確な検出結果を得ることができます。


の価値判断を4、測定可能で挑戦的なサンプル

低出力、非接触型非破壊レーザー測定は、サンプル調製が不要であることを意味する。可損性材料を損傷することなく測定することができる。拡張ラックはガンダムを収容可能210ミリの試料であり、超長作動距離対物レンズは深さを測定することができる25ミリのくぼみ。この2種類のサンプルを測定するときは、サンプルをステージに置くだけでいいです。


[カラー情報の取得]
カラーイメージング光学系には白色光を用いたLED光源とCMOSカメラはカラー情報を取得します。
[取得#シュトク#3D高度情報と高解像度共焦点画像]
レーザ共焦点光学系の採用405ナノレーザダイオード光源と高感度光電子増倍管は共焦点画像を得た。浅い焦点深度は、サンプルの表面不規則性の測定に使用できるようにする。


[405ナノレーザ光源]

光学顕微鏡の横方向分解能は波長が小さくなるにつれて向上する。短波長レーザを用いたレーザ顕微鏡は可視光(ピーク550ナノメートル)の従来の顕微鏡は、より優れた横方向分解能を有する。OLS5000顕微鏡の利用405ナノ短波長レーザダイオードは優れた横方向分解能を得た。


[レーザ共焦点光学系]

レーザ共焦点光学系は円形ピンホールを通して集光された光のみを受信し、試料から反射し散乱されたすべての光を収集するものではない。これにより、通常の顕微鏡よりもコントラストの高い画像を得ることができるようにボケを解消するのに役立ちます


[X-Yスキャナ]

OLS5000顕微鏡にはオリンパスの光学スキャナーが搭載されている。電磁誘導を採用することでMEMS共振スキャナのX軸と採用Galvano走査振動子のY軸を結合することで、X-Yスキャナは対物レンズの瞳鏡共役に対して位置しているので、より低い走査軌跡歪みとより小さな光学収差を有する卓越したX-Yスキャン。


[こうどそくていのげんり]

高さを測定する際、顕微鏡は焦点位置を自動的に移動させて複数の共焦点画像を取得する。
非連続の焦点位置(Z)と検出光強度(I)画素ごとの光強度変化曲線(I-Z曲線)を作成し、そのピーク位置とピーク強度を取得します。すべての画素のピーク位置はサンプル表面の不規則性に対応するため、サンプル表面の3D形状情報。同様に、ピーク強度データにより、サンプル表面のすべての位置焦点に対する画像(拡張画像)を得ることができる。



ホストの仕様:

モデル

OLS5000-SAF

OLS5000-SMF

OLS5000-LAF

OLS5000-EAF

OLS5000-EMF

トータル倍率

54x - 17,280x

視野直径

16 μm - 5,120 μm

そくていげんり

光学系

反射型共焦点レーザ走査レーザ顕微鏡
反射共焦点レーザ走査レーザ−DIC顕微鏡
カラー
カラーDIC

受光素子

レーザー:光電子増倍管(2 ch)
カラー:CMOSカラーカメラ

高さ測定

表示解像度

0.5 ナノメートル

ダイナミックレンジ

16 ビット

再現性n-1*1*2*6

20x : 0.03μm, 50x : 0.012 μm, 100x : 0.012 μm

精度*1*3*6

測定値+/-1.5%

タイル画像精度*1*4*6

20x : 15+0.5Lμm、50 x:9+0.5 Lμm、100 x:7+0.5 Lμm(L:スプライン長さ[μm])

測定ノイズ(SQノイズ)*1*5*6

1 ナノメートル

幅メジャー

表示解像度

1 ナノメートル

再現性3 n-1*1*6

20x : 0.05μm, 50x : 0.04 μm, 100x : 0.02 μm

精度*1*3*6

測定値+/-1.5%

タイル画像精度*1*3*6

20x : 15+0.5Lμm、50 x:9+0.5 Lμm、100 x:7+0.5 Lμm(L:スプライン長さ[μm])

単回測定時の測定点のzui大数

4096 x 4096ピクセル

測定点のzui大数

3600 メガピクセル

XYステージ配置

長さ測定モジュール

なし

なし

なし

作業範囲

100 x 100 mmでんどう

100 x 100 mm手動

300 x 300 mmでんどう

100 x 100 mmでんどう

100 x 100 mm手動

zui大サンプル高さ

100 mm

30 mm

30 mm

210 mm

140 mm

レーザ光源

波長

405 nm

zui大出力

0.95 mW

レーザ分類

2 クラス(IEC 60825-1:2007、IEC 60825-1:2014)

カラーライト

白色LED

でんきどうりょく

240 W

240 W

278 W

240 W

240 W

品質

顕微鏡本体

約31キロ

約30キロ

約50キロ

約43 kg

約39キロ

コントローラコントローラ

約12キロ