M 4型全スペクトル直読分光計

Mシリーズの全スペクトル直読分光計は国際標準の設計と製造技術を採用し、全デジタル化とインターネット技術を結合し、高分解能CMOS検出器、精密に設計されたアルゴンパージシステムを用いて、器具に極めて高い性能、極めて低いコスト、及び極めて競争力のある価格を持たせた。


M4マルチマトリックスに応用された高性能の全スペクトル直読分光計
01極めて優れた分析性能、非常にコンパクトな機器構造
02多種類の基体、多種類の材料の分析に用いられ、分析範囲はほとんどすべての重要な要素をカバーし、ほとんどの現代鋳造業の応用需要を満たすことができる。
03高輝度ホログラフィー格子は3600本/mmの最高刻み線を備え、得点光システムに最高の解像度を持たせる。
04アルゴンパージ室は最適化設計された低流速パージアルゴンシステムを配置し、最低の使用コストを保証するとともに、最適な紫外領域の透過率を保証する。
05高解像度多CMOS読み出しシステムを応用し、より低い暗電流、より良い検出限界、より高い安定性、より強い感度。
06全デジタル化されたインテリジェント複合光源DDD技術は、異なる基体、異なるサンプル及び異なる元素の励起要求を十分に満たす。
07一体式開放火花台は、各種の異なるサンプル構造の分析を満たすことができる。
08複数の工場補正曲線とより多くの材料分析方法と先進的なソリューションを配置する。
09ユーザーの材料要求に応じて、標準曲線の測定上、下限を延長することができる。
精密設計アルゴンパージシステム
光室は密封性が強く、内部アルゴンガスを長期にわたって清浄に保つことができる。
光室空間の最適化設計は、アルゴンガス消費を低減し、発生コストを効果的に節約する。
低アルゴンパージシステムは、光室のUV帯域測定環境を確保する。
光学室のアルゴン充填は複雑な真空システムを免除する。

高解像度CMOS検出器による全スペクトル解析を実現
スペクトル線はすべての重要な元素を覆い、すべての基体と材料の分析を満たす。
高感度の紫外領域検出は、Nの分析検出に対してより正確である。
元素感度線を効果的に選択し、分析の精度を保証することができる。
マルチピークフィッティング技術は、スペクトル線干渉を効果的に除去し、正確な測定を実現する。


分析ソフトウェアは強力な機能を備えている
1）Windowsシステムに基づく多言語CCD全スペクトル図形化分析ソフトウェア、便利で実用的；
2）全方位管理の測定過程全体の制御及びユーザーに強大なデータ処理能力とテスト報告出力能力を提供する、
3）計器は複数の工場校正曲線及びより多くの材質分析及び先進的な解決方案を配置することができる、
4）ソフトウェアは全スペクトル検査、知能減衰干渉、暗電流、背景とノイズを減衰するアルゴリズムを実現し、機器の分析能力を高める、
5）完備した自動システム診断機能、
6）完備したデータベース管理機能、便利にデータを検索、まとめられる、
7）知能補正アルゴリズム、機器の安定性と信頼性を保証する；
8）完備したスペクトル線情報と干渉控除アルゴリズムは、計器分析がより正確であることを保証する；
9）最新のWindowsオペレーティングシステムに適応する。

応用分野
主な技術パラメータ