M 2型全スペクトル直読分光計

Mシリーズの全スペクトル直読分光計は国際標準の設計と製造技術を採用し、全デジタル化とインターネット技術を結合し、高分解能CMOS検出器、精密に設計されたアルゴンパージシステムを用いて、器具に極めて高い性能、極めて低いコスト、及び極めて競争力のある価格を持たせた。


M 2は様々な材料の分析に応用できる。
01小型、軽量、精緻、信頼性の高い機器構造で、同型直読分光計の最も優れた分析データを持っている。
02超小型設計の光学室構造及び最適設計のアルゴンパージシステムは、紫外区元素スペクトル線の透過率を保証する。
03高分子弁多CMOS読出しシステムを応用し、より低い暗電流、より良い検出限界、より高い安定性、より強い感度。
04全デジタル化されたインテリジェント複合光源DDD技術は、異なる基体、異なるサンプル及び異なる元素の励起要求を十分に満たす。
05 FPGAデータ収集及びイーサネットネットワークデータ伝送技術、データ一致性及びデータ伝送速度を保証する。
06工場の補正曲線及び曲線拡張技術を内蔵し、異なる材料の技術要求を満たす。
07インターネットネットワーク技術及びデータクラウドストレージ。
08操作が簡単で、メンテナンスコストが低く、品質が信頼できる。




精密設計アルゴンパージシステム
光室は密封性が強く、内部アルゴンガスを長期にわたって清浄に保つことができる。
光室空間の最適化設計は、アルゴンガス消費を低減し、発生コストを効果的に節約する。
低アルゴンパージシステムは、光室のUV帯域測定環境を確保する。
光学室のアルゴン充填は複雑な真空システムを免除する。

高解像度CMOS検出器による全スペクトル解析の実現
スペクトル線はすべての重要な元素を覆い、すべての基体と材料の分析を満たす。
高感度の紫外領域検出は、Nの分析検出に対してより正確である。
元素感度線を効果的に選択し、分析の精度を保証することができる。
マルチピークフィッティング技術は、スペクトル線干渉を効果的に除去し、正確な測定を実現する。

分析ソフトウェアは強力な機能を備えている
1）Windowsシステムに基づく多言語CCD全スペクトル図形化分析ソフトウェア、便利で実用的；
2）全方位管理の測定過程全体の制御及びユーザーに強大なデータ処理能力とテスト報告出力能力を提供する、
3）計器は複数の工場校正曲線及びより多くの材質分析及び先進的な解決方案を配置することができる、
4）ソフトウェアは全スペクトル検査、知能減衰干渉、暗電流、背景とノイズを減衰するアルゴリズムを実現し、機器の分析能力を高める、
5）完備した自動システム診断機能、
6）完備したデータベース管理機能、便利にデータを検索、まとめられる、
7）知能補正アルゴリズム、機器の安定性と信頼性を保証する；
8）完備したスペクトル線情報と干渉控除アルゴリズムは、計器分析がより正確であることを保証する；
9）最新のWindowsオペレーティングシステムに適応する。