IC用顕微鏡FJ-5

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概要

製品詳細FJ-5研究級金相顕微鏡は半導体工業、シリコンウエハ製造業、電子情報産業、冶金工業の需要に対して開発されたもので、金相顕微鏡ユーザーが使用時にその超強性能を体験でき、半導体、FPD、回路パッケージ、回路基板、材料、鋳物/金属/セラミック部品、精密金型の検出

製品詳細

製品の詳細

FJ-5研究級金相顕微鏡は半導体工業、シリコンウエハ製造業、電子情報産業、冶金工業の需要に対して開発されたもので、金相顕微鏡ユーザーが使用時にその超強性能を体験でき、半導体、FPD、回路パッケージ、回路基板、材料、鋳物/金属/セラミック部品、精密金型の検出。本装置は反射と透過の2種類の照明形式を採用し、反射光照明の下で暗視野観察とDIC観察、偏光観察を行うことができる。透過光の下で明場観察を行う。安定した高品質の光学系はイメージングをより鮮明にし、コントラストをより良くする。人間工学の要件に合った設計により、仕事中に快適さとリラックスを感じられます。
特徴の説明
1.UIS高解像度、長動作距離光路補正システムを用いた対物レンズ撮像技術。

2.対物レンズの多重化技術を開拓し、遠物レンズとすべての観察法との互換性はシェーディング視野法、偏光法、DICを含み、各観察法において高精細な画像品質を提供する。

3.非球面Kohler照明を採用し、観察輝度を増加させる。

4.WF 10×（Φ25）超大視野接眼レンズ、長作動距離明暗場金相対物レンズ。

5.DIC微分干渉装置を挿入可能なコンバータ。

技術仕様
観察ヘッド	30°ヒンジ式三眼（50 mm-75 mm）
接眼レンズ	WF10×/25mm
接眼レンズ	WF 10×/20 mm、0.1 mm十字分割板付き
対物レンズ	平場遠長仕事距離明暗場対物レンズ：5×/0.1 B.D/W.D.29.4 mm、10×/0.25 B.D/W.D.16 mm、20×/0.40 B.D/W.D.10.6 mm、40×/0.60 B.D/W.D.5.4 mm、
コンバータ	DICジャック付き四孔変換器
プラットフォーム	2層モバイルプラットフォーム
	プラットフォームサイズ：189 mm×160 mm
	移動範囲：80 mm×50 mm
カラーフィルタ	プラグカラーフィルタ（緑、青、中性）
集光レンズ	N.A.1.25アッベ集光レンズ可変絞りとカラーフィルタ付き
コークス調整	粗、微動同軸合焦、歯車ラック伝動機構を採用した。インチンググリッド値0.002 mm
光源こうげん	透過照明：ハロゲンランプ12 V/50 W、AC 85 V-230 V、輝度調整可能
光源こうげん	落射照明：開口ライトバーと視野ライトバーがあり、ハロゲンランプ12 V/50 W、AC 85 V-230 V、輝度調整可能
へんこうそうち	偏光検出ミラーは360度回転でき、偏光検出ミラー、偏光検出ミラーはすべて光路を移動することができる
検出ツール	0.01 mmゲージ
添付ファイル	2 D測量ソフトウェア
	専門的な金相画像解析ソフトウェア
	落射照明：ハロゲンランプ12 V/100 W、AC 85 V-230 V、輝度調整可能
	平場遠長動作距離明暗場対物レンズ：50×/0.55 B.D/W.D.5.1 mm、80×/0.75 B.D/W.D.4 mm、100×/0.80 B.D/W.D.3 mm
	マイクロ接眼鏡
	130万、200万、300万、500万画素CMOS電子接眼レンズ
	撮影装置及びCCDインタフェース0.5×、0.57×、0.75×
	DIC（10×、20×、40×、100×）
	フラットプレス
	カラー1/3インチCCD 520ライン

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