日立卓上顕微鏡TM 4000/TM 4000 Plus

製品の詳細：

卓上走査電子顕微鏡(SEM)新しいアップグレード。

私たちは“高画質化、使いやすく、見やすく”をコンセプトに開発TM4000シリーズ。その上で、より多様な機能を提供していますTM4000Ⅱシリーズ。
新しい観察と分析アプリケーションを提供します。

製品特徴：

画像を見る3分です。必要なデータを迅速に取得し、レポートを作成できます。

||観察と分析の柔軟性

各種データを自動的に取得します。高速切り替え！

素子分布図を迅速に取得可能*2

*1 TM4000PlusⅡという機能があります。

*2オプション

||使用Camera Navi*となれば、それだけの簡単さです

Camera Navi画像を使用すると、簡単に視野、分布図を見つけることができます(MAP)機能の全行程はあなたの観察をサポートします

* オプション：Camera Naviシステム

||操作が簡単で迅速

画像を見るには 3 分です。
画像をすばやく観察し、テストレポートをエクスポートできます。

||Report Creator簡単にレポートを作成できます

画像とテンプレートを選択するだけで、作成することができますMicrosoft Word、Excel、PowerPointフォーマットされたレポート

||絶縁物サンプルであっても、前処理することなく観察することができる。

“静電軽減モード”静電気現象を抑制できる

静電気が発生しやすいサンプルには、“静電軽減モード”、静電を抑制した状態で観察する。

マウスでソフトウェアをクリックするだけで“静電軽減モード”。

||低真空条件下で多様な観察が可能

静電気が発生しやすい粉末や含水などのサンプルについては、その目的に合わせて観察することができる。

||低真空条件下で二次電子像（表面形状）観察を行うことができる。

前処理を必要とせず、絶縁物と含水・含油サンプルの表面を観察することもできる

従来の導電性試料を観察するだけでなく、絶縁物と含水、含油試料を前処理なしで観察することもできる。二次電子像と後方散乱電子像との切り替えを迅速に行うことができる。

||高感度低真空二次電子検出器

高感度低真空二次電子検出器を採用(UVD)。電子線と残留ガス分子との衝突による光を検出することで、二次電子情報を持つ画像を観察することができる。また、この検出器を制御ことにより、電子照射による光を検出し、CL情報（UVD-CL:を含むCL情報の画像）。

||サポート可能な加速電圧20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus IIサポート可能な加速電圧20 kV。

に頼るEDS解析（オプション）を行い、より高い計数率解析を行うことができます。

||加速電圧による20 kV、実装EDS要素分布図の高さS/N化ける

||Multi Zigzag（オプション）

広域的に実行可能SEM観察する。

自動モーター台を組み合わせることで、低倍率、高精度、広範囲の観察分析を実現することができます。

||EMサンプルテーブル

||容易に観察可能 STEM画像

新たに開発されたSTEM試料台と高感度低真空二次電子検出器(UVD)組み合わせて使用することで、小さな倍率を簡単に見ることができますSTEM画像。

フィルムサンプル及び生体サンプルを容易に観察することができる.

||製品仕様：