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上海正衡電子科技有限公司
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HIOKI日置SM 7810高抵抗計

ネゴシエーション可能更新12/14
モデル
メーカーの性質
メーカー
製品カテゴリ
原産地
概要
●MLCC漏洩電流最速速度6.8 msを測定、8 ch同期測定●大電流レンジ(1 mA)による高容量MLCCの漏洩電流の高速測定●接触検査機能による検査の信頼性向上●各チャネル個別設置により、柔軟な多変化システムの構築が可能
製品詳細

製品の特徴

●MLCC漏洩電流最速速度6.8 ms、8 ch同期測定を測定する
●大電流レンジ(1 mA)による高容量MLCCのリーク電流の高速測定
●接触検査機能により検査の信頼性が向上
●チャネルごとに個別に設置し、柔軟なポリトロープシステムを構築可能

製品の機能

高抵抗計SM 7810は、MLCC(チップ多層セラミックコンデンサ)の製造工程においてリーク電流を検査するためのテスタである。最速6.8 msの高速測定と8 ch同時測定を実現できる。

電源ユニットSM 7860はマルチチャネルシステムに対応する専用電源であり、8 chまたは16 ch単位の2系統電圧設定により最大32 ch出力可能である。

SM 7810とSM 7860を組み合わせた検査システムは自動化ユニットに最適で、最も迅速なMLCC漏れ電流検査ラインを提供する。

MLCC漏れ電流測定に最適な検査システム

SM 7810+SM 7860 MLCC検査システムの特徴

●高抵抗計SM 7810は8 ch同時測定、最速6.8 msのMLCC漏洩電流検査ラインを備え、自動化ユニットの間欠時間を減少し、MLCCのコスト低減を実現する。

・高抵抗計SM 7810と電源ユニットSM 7860の組み合わせにより、自動ユニットに最適な検査システムを実現する。電源ユニットの最大印加電圧と機能を選択することで、充放電を含む各種検査ラインに対応することができる。


HIOKI日置SM 7810高抵抗計製品の特徴

●MLCCの漏洩電流測定最速6.8 ms高速測定、8 ch同時測定

●大容量MLCCのリーク電流を大電流レンジ(1 mA)で高速検出

●接触検査機能による測定信頼性の向上

●各chは別々に設置可能、フレキシブルコンポーネント各システム


アプリケーション・パフォーマンスの向上

測定時間6.8 ms(トリガ開始からINDEX出力まで)

接触検査と判断を行った場合でも、6.8 msで測定を終了することができます。(速度FAST測定時)

測定時間は従来品に比べて30%短縮するとともに、機器の間欠時間も短縮した。


●各chはそれぞれ設定可能

レンジ、測定電圧、コンパレータはそれぞれchに設定できます。システムと結合して8 ch×1試験台、4 ch×2試験台、2 cm×4試験台などを構築し、同時に測定でき、各種自動ユニットに柔軟に対応する。


信頼性の向上

●接触検査機能による信頼性の向上

高速測定と同時に接触検査を完了します。プローブ接触不良による誤判定を回避し、検査の信頼性を高める。



MLCC(チップ多層セラミック容量)の高速リーク電流測定

大容量のMLCCのリーク電流を高速に測定できる。

8チャンネル同時測定なので、1回の検査数を増やすことでオートマトンの性能が向上します。
・EV用インバータに搭載された高耐圧セラミックコンデンサの検査でも、最大1 kVまでの測定電圧を印加することで対応可能。
・測定電流レンジを拡大することで、充電中のコンデンサのリーク電流も測定できる。
・接触検査機能を用いて、被測定物と測定器の接触が良好であることを確認してから測定を開始することができる。


●電源SM 7860 Sは±1 V〜1 kVの電圧を出力することができ、また、放電機能もあるので、MLCCに合わせて検査システムを行うことができる。
・1つの問題が発生して同時に測定された他のキャパシタでも影響を受けないように、各チャネルに独立して電流制限を設けることができる。


製品の詳細:HIOKI日置SM 7810高抵抗計