HCX 09 A薄膜熱物性試験器

この装置は薄膜材料の熱物性パラメータを試験するために用いられる。薄膜物理は、物体が薄い場合、同じ材料の薄膜状態の物性と容積状態の物性は必ずしも同じではないことを指摘しているので、薄膜物性の測定は薄膜状態で行わなければならない。物体表面温度に応じて余弦（または正弦）則で変化する場合の過渡実験モデル。この装置は温度波法を用いて薄膜材料の熱物性パラメータを試験する。薄膜は有限厚の一次元モデルであるためである。この状態で、温度発振周波数が一定値に達した後、サンプル上、下面温度の位相差を用いて導温係数または熱伝導係数を計算する。計器は研究専用である薄膜材料の熱物性特性。