デュアルチャネルテラヘルツ周波数領域分光計

概要

多機能PB 7220-2000-T/Rテラヘルツ周波数領域分析スペクトルプラットフォームは、複雑な化合物を正確に走査するために設計され、より高い精度と制御能力を持っている。THz研究者と応用開発者がテラヘルツ周波数における材料特性を高分解能で研究する必要がある場合、PB 7220テラヘルツ周波数領域分析分光計は理想的な選択である。100 GHzから1.8 THz以上に走査された単一の高速走査は、周波数分解能が0.25 GHzより高い。2つのチャネルを持つため、サンプルのテラヘルツ透過と反射特性を同時に測定することができます。第2のチャネルは、単一のシステムが異なる反射または散乱角度でサンプルから情報を収集しながら、送信を連続的に監視することを可能にする。

PB 7220テラヘルツ周波数領域分析分光計は正確に同調した光ファイバ結合蝶形パッケージ半導体DFBレーザ、先進的な光混合光源と検出器、先進的なデジタル制御ハードウェアとソフトウェアを採用し、完全なTHzワンタッチ起動分光器を提供する。光混合源の高効率CW特性は、すべてのTHzパワーが興味のある周波数範囲内にあり、70 dBHzまでの走査範囲内で優れたダイナミック範囲を有する。

光ファイバ結合光源と検出器プローブは、透過と反射測定を同時に行うプラットフォームに取り付けられている。また、拡張された光ケーブルと一緒に使用することで、より広範な用途でより大きな測定柔軟性を提供することもできます。

適用＃テキヨウ＃

• 材料とデバイスの特性評価
• 化学/生物物質検査
• 工業プロセス監視
• マイクロ波とテラヘルツスペクトル

特徴

• テラヘルツ透過と反射測定を同時に行う2チャネルシステム構成
• 完全交鍵システム
• 経済的で実用的：従来のテラヘルツシステムコストの一部
• 携帯型：内蔵リチウムイオン電池を構成可能、連続使用時間は12時間
• 100 GHzから1.8 THzを超える連続高速スキャン
• ファイバ結合テラヘルツ源と検出器プローブ
• チャネルごとに独立したプローブプローブを提供する
• 室温固体状態検出：低温は不要
• OEMモデル提供

パフォーマンス

パラメータ