回路設計のためのB 1506 Aパワーデバイス解析器/曲線追跡器

各種動作条件におけるすべての電力デバイスパラメータを評価し、電力回路設計性能を向上させる

電気電子回路設計者が自分の応用に適した電力デバイスを選択し、その電力電子製品に最大の価値を発揮させることができるようにするための総合的なソリューションです。IVパラメータ（破壊電圧とオン抵抗）、三端子FET容量、ゲート電荷と電力損失を含む、異なる動作条件におけるデバイスのすべての関連パラメータを評価することができる。回路設計に使用されるB 1506 Aパワーデバイスアナライザ/カーブトラッカーは、完全なカーブトラッカー機能とその他の機能を備えている。

B 1506 Aの一般的な特性

• 最大3 kV/1500 Aの広い作業範囲

• -50°Cから+250°Cまでの全自動高速熱試験

• パワーデバイス（半導体および部品）を自動作成するための技術資料

• 自動記録機能によりデータ損失を防止

B 1506 A IVキットの特性

• パッケージとウェハ上のデバイスの全自動高速IV測定（Ron、BV、リーク、Vth、Vsatなど）が可能

• 狭いIVパルス幅（最も狭い10μs）はデバイスの自己発熱を防止し、デバイスの実際の性能をより正確にテストすることができる

• オシロスコープビュー（時間領域ビュー）は、正確な測定のために実際の電圧／電流パルス波形を監視することができる

• 構成は柔軟に拡張でき、CVとQgを追加し、電流範囲を20 Aから500 Aまたは1500 Aに拡張できる

B 1506 Aキットの完全な機能

• IVキットの全特性

• 3 kVにおけるパッケージデバイスのトランジスタ入出力及び逆転送容量（Ciss、Coss、Crss、Cies、Coes、Cres）及びゲート抵抗（Rg）の測定

• パッケージデバイスのゲート電荷（Qg）曲線を測定する

• 電力損失（伝導、駆動、スイッチング損失）の計算

B 1506 Aは豊富な機能を持ち、実際の回路動作条件下で不適合デバイスを発見するのに役立ち、このような動作条件下には広い電圧と電流範囲（3 kVと1500 A）、広い温度測定範囲（-50°Cから+250°C）、高速パルス生成能力、nA級以下の電流測定分解能が含まれる。そのソフトウェアインタフェースはユーザーがよく知っているデバイス技術資料フォーマットを採用しているため、ユーザーは正式なトレーニングを必要とせずにデバイスを簡単に特徴づけることができます。試験治具内の集積スイッチング回路は全自動試験をサポートし、高電圧試験と大電流試験の間、およびIVとCV測定の間で自動的に切り替えることができる。

また、プラグインデバイス試験治具ソケットアダプタは、ケーブル接続や他の人工誤差を回避することができます。B 1506 Aは全自動熱特性評価もサポートしている。この操作は、統合されたThermostreamコントロールまたはThermal Plateによって実行できます。被測定デバイスはB 1506 Aの測定リソースに非常に近いため、気候室ケーブル延長部による大きな寄生効果は存在しない。

このため、1500 Aまでの無振動超電流を低温と高温の条件下で正確に評価することができます。B 1506 Aは、最終的な製品の価値を十分に発揮し、製品開発を加速させることで、電力電子回路設計を転換するのに役立ちます。

IVキット（H 20、H 50、H 70）の価格はそれらの従来の曲線追跡器とあまり差がない。B 1506 Aを使用すると、より先進的な特性を得ることができます。任意のB 1506 A IVキット（H 20、H 50、H 70）をアップグレードして電流レンジを増やすか、CV/Qg測定機能（オプションH 21、H 51、H 71）を追加することもできます。

B 1506 A IVキット

• B 1506 A-H 20 A/3 kV IV測定

• B 1506 A-H 50 500 A/3 kV IV測定

• B 1506 A-H 70 1500 A/3 kV IV測定

B 1506 A完全キット

• B 1506 A-H 21 20 A/3 kV IV、C-V及びゲート電荷測定

• B 1506 A-H 51 500 A/3 kV IV、C-V及びゲート電荷測定

• B 1506 A-H 71 1500 A/3 kV IV、C-V及びゲート電荷測定