冷熱サイクル衝撃試験箱温度環境の変化をシミュレートし、製品の性能信頼性を検出する重要な装置として、安定した運転が重要である。しかし、頻繁に電源を切ると多方面に深刻な危害を及ぼすことがあります。

一、電気系統の損傷

1.電子部品の損傷：頻繁に電源を切ると、瞬間的な電圧変動が試験箱内の電子部品に強い衝撃を与える。例えば、マザーボード上の集積回路、抵抗、容量などの素子は、電圧突然変異の過程で、高すぎる電圧や電流に耐えて破壊される可能性がある。これらの重要な電子部品が損傷すると、試験箱の制御システムが正常に動作せず、温度制御、パラメータ設定などの機能が失効する。

2.リレー故障：リレーは試験箱の中で回路のオンオフを制御するために用いられ、頻繁に停電してリレーを頻繁に動作させる。停電と着信の瞬間ごとに、リレー接点はアークを発生し、長時間にわたって頻繁なアーク作用は接点のアブレーション、癒着を引き起こす。リレーが故障すると、冷房、加熱などの設備の起動と停止を正確に制御できず、試験箱の温度調節機能に影響を与える可能性がある。

二、冷凍と加熱システムの故障

1.圧縮機損傷：冷凍システムにおける圧縮機はコア部品である。頻繁に電源を切ると、圧縮機モータが短時間で頻繁に起動します。起動するたびに、モータは大きな抵抗を克服する必要があり、起動電流は通常の動作電流の数倍である。これにより、圧縮機モータの巻線が過熱し、絶縁材料の老化が加速し、モータの使用寿命が短縮される。深刻な場合、モータは過熱により焼失し、冷凍システムを麻痺させる可能性があり、低温環境シミュレーションを実現できない。

2.加熱管損傷：加熱システムの加熱管は動作時に高温状態にある。頻繁な停電により加熱管の温度が急激に変化し、このような熱膨張・冷縮の頻繁な交替は、加熱管内部の抵抗線に疲労が生じ、破断が生じやすくなる。一旦加熱管が損傷すると、試験箱は正常に昇温できず、高温環境シミュレーションに影響を与え、さらに完全な冷熱サイクル衝撃試験を完成することができない。

三、温度制御精度の低下

1.センサ偏差：温度センサはリアルタイムで箱内温度を監視検査し、信号を制御システムにフィードバックして温度を調節する。頻繁な電源オフによる電磁干渉は、温度センサの測定データにばらつきが生じる可能性がある。例えば、センサーが温度を誤審し、制御システムが誤った信号を受信し、不正確な温度調節指令を作り出し、試験箱内の実際の温度と設定温度を一致させ、試験結果の正確性を低下させる可能性がある。

2.制御アルゴリズムの乱れ：試験箱の温度制御は正確な制御アルゴリズムに依存する。頻繁な電源オフは制御システムの運転ロジックを乱し、制御アルゴリズムを乱す可能性がある。制御システムは実際の温度と設定温度の差に基づいて、正確に冷凍、加熱設備の運転電力を調節できず、温度変動が大きすぎて、安定した試験温度環境を維持できない。

四、機械部品の摩耗が激化する

1.ファンとモーターの摩耗：試験箱内のファンは空気循環に用い、箱内の温度が均一であることを確保する。頻繁な停電によりファンモータが頻繁に起動停止し、モータ軸と軸受との間の摩擦が激化し、軸受が摩耗する。同時に、ファンブレードは迅速な起動と停止の過程で、受ける衝撃力が増大し、変形、緩みなどの問題が発生する可能性がある。これは空気循環効果だけでなく、異常な振動や騒音を引き起こす可能性があります。

2.伝動部品の損失：一部の試験箱には試料棚の移動や試験箱のドアスイッチのための伝動装置などの伝動部品が付いている。頻繁な停電により、これらの伝動部品は頻繁に起動と停止し、歯車、チェーンなどの部品間の摩耗が激化している。長期にわたり、伝動部品の精度が低下し、伝動の不調、位置偏差などの問題が発生し、試験箱の正常な操作と試験過程の安定性に影響を与える可能性がある。

頻繁な電源オフペア冷熱サイクル衝撃試験箱の電気システム、冷房・加熱システム、温度制御精度及び機械部品はいずれも重大な危害をもたらす。試験箱の正常な運行と試験結果の信頼性を保障するために、できるだけ頻繁な停電を避け、あるいは試験箱のために無停電電源（UPS）などの保護設備を備えなければならない。